通信業界での高温および低温試験室の適用

近年、光学通信市場の継続的な開発により、光トランシーバーやSFP光学モジュールなどの光学成分の需要も急激に増加しています。ただし、光学トランシーバーは、使用中に多くの熱を生成します。特に、設置サイトが通常屋外に位置し、温度が高すぎるか低すぎる場合は通常の動作に影響を与える可能性があります。これは、生産企業が解決しなければならない問題になります。この問題を解決するために、高温および低温衝撃試験室が生まれました。

まず、高温衝撃テストボックスと光ファイバートランシーバーの接続

高圧および低圧試験チャンバーは、高温および低温のテスト環境を迅速に提供でき、非常に簡単に移動できます。 -75°Cから+250°Cの範囲をカバーする非常に広い温度範囲をテストできるため、現在、光学通信業界で広く使用されています。

高温および低温サイクルショックテスターの役割は、テストのために異なる温度環境に光ファイバートランシーバーを配置することにより、さまざまな可能な状況をシミュレートすることです。このようにして、メーカーはさまざまな環境における光ファイバートランシーバーの適応性と安定性をよりよく理解することができ、製品の生産と使用に関する重要な参照を提供します。

第二に、光ファイバトランシーバーを温度上の理由でテストする必要があります。

光学通信デバイスは、工場を離れる前にコンポーネントレベルでテストする必要があります。主に電気性能テスト、障害分析、温度繊維トランシーバーの電気作業における主要なコンポーネントの信頼性評価、温度サイクルテストや温度ショックなどテスト、高温および低温サイクル衝撃テストマシンは、従来の温度テストボックスと比較して、上昇と冷却速度が高速です。他の周囲のデバイスに影響を与えることなく、多くのコンポーネントの間で単一のトランシーバーを分離することができます。


3つの光学トランシーバー温度テストステップ

テスト中のトランシーバーと温度センサーは、カスタムテスト領域に配置されます

オペレーターは、テストする温度範囲を設定します

プログラムに従って機器を起動し、空気コンプレッサーを使用して乾燥した空気ときれいな空気を低温処理のために冷蔵庫に渡し、その後、空気が加熱のために外部パイプラインを通って加熱ヘッドに到達します。エアフローは熱流束を介してテストチャンバーに入ります

テスト領域の温度センサーは、現在のチャンバー温度をリアルタイムで監視でき、高温および低温衝撃テストマシンには過熱温度保護システムが付属しています。工場の設定温度は +250°Cで、演算子は実際のニーズに応じて高温および低温の制限点を設定できます。温度が設定された温度に達すると、テストマシンは自動的に停止します。